AKTUALNOŚCI

Opublikowano nasz artykuł naukowy dotyczący starzenia się połączeń lutowniczych wewnątrz wielofunkcyjnych obudów Alu4CED

Alu4CED logo

Logo NCBR i CORNET

Applied Sciences opublikowało nasz artykuł: „Wpływ starzenia na ewolucję warstwy IMC w pastach lutowniczych Bi oraz SAC na rdzeniach aluminiowych o trójwymiarowym kształcie”. Zapraszamy do zapoznania się z artykułem.

Flaga RP oraz godło